01.19.23

Reflektometry optyczne do lokalnych pomiarów warstw

W naszej ofercie znajdują się wszechstronne reflektometry optyczne pozwalające zależnie od wybranego modelu określić grubość warstw w szerokim zakresie pomiarowym od 1nm aż do 3 mm. Ponadto urządzenia pozwalają wyznaczyć stałe optyczne, reflektancję, transmitancję oraz barwę próbek zgodnie ze standardem CIE 1931 oraz CIE 1964.

Poniżej przedstawiamy wybrane modele dedykowane w szczególności zastosowaniom badawczym, które umożliwiają przeprowadzenie lokalnej charakterystyki powierzchni.

FR-uProbe: Lokalna charakteryzacja cienkich warstw 

Pomiar grubości warstw przez mikroskop

 

Reflektrometr optyczny FR-uProbe pozwala na wykonanie lokalnych pomiarów grubości warstwy już od 15 nm, wyznaczanie stałych optycznych oraz wykonywanie pomiarów reflektancji, transmitancji i absorbancji w zakresie  400 – 1000 nm.

FR-uProbe to narzędzie do zastosowań, w których wymagana wielkość plamki pomiarowej wynosi zaledwie kilka mikrometrów, np. dla powierzchni typu „micro-patterned” czy próbek wykazujących wysoki poziom rozpraszania światła.

  • Zgodność z większością mikroskopów: mocowanie do adaptera C-mount większości dostępnych na rynku mikroskopów optycznych (odbicie i/lub transmitancja) 
  • Pomiary spektroskopowe w czasie rzeczywistym 
  • Obrazowanie powierzchni za pomocą zintegrowanej kolorowej kamery o wysokiej rozdzielczości 
  • Nieograniczony dostęp do wszystkich pozostałych dostępnych funkcji mikroskopu

FR-Mic: Lokalna charakteryzacja warstw w szerokim zakresie spektralnym

Reflektometr

FR-Mic to modułowy system optyczny do szybkiej i dokładnej charakteryzacji powłok, które wymagają wielkości plamki pomiarowej wynoszącej zaledwie kilka mikrometrów.

FR-Mic pozwala na lokalny pomiar grubości warstwy w zakresie już od 4 nm, wyznaczenie stałych optycznych oraz wykonywanie pomiarów reflektancji, transmitancji i absorbancji w szerokim zakresie spektralnym UV / Vis / NIR.

Urządzenie można połączyć z dedykowanym sterowanym komputerowo stolikiem XY, co pozwala na szybkie, łatwe i dokładne zautomatyzowane mapowanie grubości i właściwości optycznych całych powierzchni podłoży.

mapowanie reflektometr
Przykładowe mapowanie

Zapewniamy możliwość wykonania próbnych pomiarów na Państwa próbkach.