Pomiar grubości warstw przez mikroskop

FR-μProbe

Pomiary grubości warstw za pomocą mikroskopu optycznego

    Ta strona jest chroniona przez reCAPTCHA oraz Google Polityka Prywatności | Warunki użytkowania.

    Reflektometr optyczny FR-μProbe pozwala na wykonanie lokalnych pomiarów grubości warstwy w zakresie już od 15 nm, wyznaczanie stałych optycznych oraz wykonywanie pomiarów reflektancji, transmitancji i absorbancji w zakresie  400 – 1000 nm. 

    FR-μProbe to narzędzie do zastosowań, w których wymagana wielkość plamki pomiarowej wynosi zaledwie kilka mikrometrów, np. dla powierzchni typu „micro-patterned” czy próbek wykazujących wysoki poziom rozpraszania światła.  

    Główne cechy urządzenia: 

    • Zgodność z większością mikroskopów: mocowanie do adaptera C-mount większości dostępnych na rynku mikroskopów optycznych (odbicie i/lub transmitancja) 
    • Pomiary spektroskopowe w czasie rzeczywistym 
    • Obrazowanie powierzchni za pomocą zintegrowanej kolorowej kamery o wysokiej rozdzielczości 
    • Nieograniczony dostęp do wszystkich pozostałych dostępnych funkcji mikroskopu

     

    SPECYFIKACJA

    Zakres spektralny 400nm - 1000nm
    Zakres pomiaru grubości (Obj. 5x) 15nm - 90μm
    Zakres pomiaru grubości (Obj. 10x) 15nm - 80μm
    Zakres pomiaru grubości (Obj. 20x) 15nm - 40μm
    Zakres pomiaru grubości (Obj. 40x) 15nm - 10μm
    Obliczenia współczynnik załamania światła v / min. grubość 1000nm
    Dokładność pomiaru grubości 0,2% lub 2 nm
    Precyzja pomiaru grubości 0.02nm
    Stabilność pomiaru grubości 0.05nm
    Kamera Wysokorozdzielcza 2 lub 5Mpixel
    Odległość robocza Określona specyfikacją obiektywu
    Wielkość plamki 100 - 2μm
    Źródło światła Źródło światła mikroskopu
    Rozdzielczość długości fali 0.8nm
    Ilość mierzonych warstw Max. 5 warstw
    Konwerter A/D 16 bit
    Zasilanie USB
    Wymiary 300mm x 110mm x 40mm