• Oferta

    Systemy do nakładania warstw

    • Atomic Layer Deposition (ALD)
    • CVD/PVD/Implantacja jonowa/Trawienie jonowe

    Obróbka materiałów półprzewodnikowych

    • Spin coater (powlekacze obrotowe)
    • Spray coating
    • Hotplate
    • Stoły mokre, dygestoria
    • Urządzenia do procesów mokrych
    • Manipulacja i przechowywanie podłoży

    Litografia

    • Litografia laserowa
    • Litografia klasyczna (mask aligner)
    • Litografia elektronowa

    Pomiar grubości warstw

    • Reflektometry optyczne
    • Elipsometry

    Wyposażenie technologiczne

    • Wyposażenie antywibracyjne
    • Przepływomierze bezkontaktowe

    Materiały eksploatacyjne

    • Fotorezysty
    • Prekursory do procesów ALD/CVD
    • Podłoża półprzewodnikowe

    Dyfraktometry rentgenowskie

    • Dyfraktometry proszkowe
    • Dyfraktometry monokrystaliczne

    Tomografy rentgenowskie

    • Tomografy in vivo
    • Tomografy in vitro
    • Skanowanie usługowe

    Szukasz czegoś innego?

    Napisz do nas
  • Aktualności
  • Kontakt
  • O nas
  • PL
  • CS
    • Pomiar grubości warstw

    Podkategorie główne

    • Elipsometry
    • Reflektometry optyczne

    Urządzenia do pomiaru grubości warstw

    Reflektometry optyczne

    Reflektometry optyczne

    Zobacz

    Elipsometry

    Wielozakresowe elipsometry do pomiarów cienkich warstw ex-situ i in-situ

    Zobacz

    info@devmatech.eu
    +48 22 378 44 08

    Menu

    • Strona główna
    • Aktualności
    • O nas

    Dla klienta

    • Kontakt

    Informacje

    • Aktualności

    Obserwuj nas

    Project by: travi. | Agencja interaktywna
    Na naszej stronie wykorzystujemy pliki Cookies zgodnie z polityką prywatności. Przeglądając witrynę akceptujesz warunki. Zobacz szczegóły