• Oferta

    Systemy do nakładania warstw

    • Atomic Layer Deposition (ALD)
    • CVD/PVD/Implantacja jonowa/Trawienie jonowe

    Obróbka materiałów półprzewodnikowych

    • Spin coater (powlekacze obrotowe)
    • Spray coating
    • Hotplate
    • Stoły mokre, dygestoria
    • Urządzenia do procesów mokrych
    • Manipulacja i przechowywanie podłoży

    Litografia

    • Litografia laserowa
    • Litografia klasyczna (mask aligner)
    • Litografia elektronowa

    Pomiar grubości warstw

    • Reflektometry optyczne
    • Elipsometry

    Wyposażenie technologiczne

    • Wyposażenie antywibracyjne
    • Przepływomierze bezkontaktowe

    Materiały eksploatacyjne

    • Fotorezysty
    • Prekursory do procesów ALD/CVD
    • Podłoża półprzewodnikowe

    Dyfraktometry rentgenowskie

    • Dyfraktometry proszkowe
    • Dyfraktometry monokrystaliczne

    Tomografy rentgenowskie

    • Tomografy in vivo
    • Tomografy in vitro
    • Skanowanie usługowe

    Szukasz czegoś innego?

    Napisz do nas
  • Aktualności
  • Kontakt
  • O nas
  • PL
  • CS
    • Pomiar grubości warstw
    • -
    • Reflektometry optyczne

    Podkategorie główne

    • Elipsometry
    • Reflektometry optyczne

    Reflektometry optyczne

    Reflektometry optyczne

    reflektometr optyczny

    FR-pRo

    Modułowy reflektometr optyczny z zakresem pomiaru grubości warstw w zakresie 1nm - 5mm

    Zobacz

    FR-pOrtable

    Przenośne urządzenie do pomiaru grubości warstw, współczynnika załamania światła i koloru

    Zobacz
    reflektometr optyczny pomiar grubości warstw

    FR-Scanner

    Zautomatyzowany pomiar grubości warstw i współczynnika załamania światła w odbiciu i transmisji

    Zobacz
    reflektometr optyczny pomiar grubości warstw

    FR-Education

    Narzędzie do nauki wykonywania charakteryzacji optycznej i pomiaru grubości warstw

    Zobacz
    Pomiar grubości warstw przez mikroskop

    FR-μProbe

    Pomiary grubości warstw za pomocą mikroskopu optycznego

    Zobacz
    Reflektometr

    FR-MIC

    Pomiary grubości warstw za pomocą mikroskopu optycznego

    Zobacz

    Reflektometry optyczne

    Pomiar grubości warstw, pomiar współczynnika załamania światła, pomiar koloru

    info@devmatech.eu
    +48 22 378 44 08

    Menu

    • Strona główna
    • Aktualności
    • O nas

    Dla klienta

    • Kontakt

    Informacje

    • Aktualności

    Obserwuj nas

    Project by: travi. | Agencja interaktywna
    Na naszej stronie wykorzystujemy pliki Cookies zgodnie z polityką prywatności. Przeglądając witrynę akceptujesz warunki. Zobacz szczegóły