Příklady aplikace - STOE PXRD
Příklady aplikace
Níže jsou uvedeny příklady měření získaných na práškových difraktometrech STOE
VYSOCE KVALITNÍ DATA – TRANSMISNÍ XRD GEOMETRIE
Data ze systému STADI P s čistým zářením Kα1 a transmisní Debye-Scherrerovou geometrií. Vynikající úhlové rozlišení: FWHM < 0,03° 2Theta. Možnost analýzy velmi malého množství materiálu. Bez vlivu textury (přednostní orientace) fází vzorku na výsledek měření, schopnost měření od úhlů 2Theta <0,2ᵒ.
MYTHEN 1K – RYCHLÁ XRD MĚŘENÍ, VYSOKÉ ROZLIŠENÍ
Příklady ukazující možnosti kombinace čistého záření Kα1 a detektorů Mythen 1K (Dectris). Difraktogram v rozsahu 0° až 120° 2Theta s vynikajícím poměrem signál/šum byl načten během 60 sekund.
XRD MĚŘENÍ OD NÍZKÝCH ÚHLŮ 2THETA
Systém STADI P v základní konfiguraci umožňuje reálné měření od úhlu 0,2° 2Theta s využitím zdroje záření Cu Kα1.
MĚŘENÍ STANDARDU LaB6 ZA DVĚ MINUTY
Konfigurace několika detektorů Mythen 1K (Dectris) umožnilo získání vysoce kvalitních dat vzorku LaB6 v rozsahu 2°- 110° 2Theta za 120 sekund.
STADI P v konfiguraci s několika detektory Mythen 1K je vynikajícím nástrojem pro rychlé fázové analýzy nebo výpočty párových distribučních funkci PDF
RYCHLÁ MĚŘENÍ XRD ZA VYSOKÝCH TEPLOT
Systémy Stoe jsou zařízení dokonale přizpůsobená pro in-situ měření fázových změn v závislosti na změně teploty nebo jiných faktorech.
Dokument ukazuje kvalitu dat získaných s využitím vysokoteplotních komůrek od STOE.
ELEKTROCHEMICKÁ IN SITU XRD MĚŘENÍ
Inovační elektrochemická komůrka STOE s transmisní Debye-Scherrerovou geometrií umožňuje studovat fázové změny materiálů pod řízeným elektrickým napětím a to od nejnižších úhlů v 2Theta. Přiložený dokument ukazuje výsledky celého cyklu nabíjení/vybíjení LiFePO4//Li.
XRD MĚŘENÍ ZA NÍZKÝCH TEPLOT AŽ DO 5,5 K
Měření TbVO4 za ultranízkých teplot pomocí systému STADI P vybaveným heliovým kryostatem.
XRD MĚŘENÍ V DYNAMICKÉ PLYNOVÉ ATMOSFÉŘE
XRD měření v kapilárách, v transmisní komůrce IN SITU STOE HT2 – oxidace ruthenia na uhelném substrátu s Ru-Pt katalyzátorem na povrchu.
VLIV VLNOVÉ DÉLKY NA VÝPOČTY PDF
Kvalita práškových dat pro výpočty PDF získaných pomocí laboratorního difraktometru STADI P vybaveného zdroji Cu, Mo a Ag Kα1 a detektorem Mythen 1K o různých tloušťkách křemíkového pásku snímače v kvalitě srovnatelné se synchrotronovým zářením.
ANALÝZA PDF PIGMENTU PY213
Posouzení vlivu vlnové délky a šumu detektoru a na výsledek analýzy PDF a určení maximální hodnoty Q pro pigment PY213. Měření na přístroji STADI P s Cu, Mo a Ag Kα1zářením a detektorem Mythen 1K o různých tloušťkách křemíkového pásku snímače.
REFLEKTOMETRICKÁ MĚŘENÍ NA SYSTÉMU STADI MP
Dvě nejběžnější metody měření tenkých vrstev jsou reflektometrie a elipsometrie. Redukce STOE využívá metodu celkové disperze a umožňuje detekovat intenzitu rentgenového záření odraženého studovanou tenkou vrstvou.