Reflektometr

FR-MIC

Pomiary grubości warstw za pomocą mikroskopu optycznego

    Ta strona jest chroniona przez reCAPTCHA oraz Google Polityka Prywatności | Warunki użytkowania.

    FR-Mic to modułowy system optyczny do szybkiej i dokładnej charakteryzacji powłok, które wymagają wielkości plamki pomiarowej wynoszącej zaledwie kilka mikrometrów.

    FR-Mic pozwala na lokalny pomiar grubości warstwy w zakresie już od 4 nm, wyznaczenie stałych optycznych oraz wykonywanie pomiarów reflektancji, transmitancji i absorbancji w szerokim zakresie spektralnym UV / Vis / NIR. 

    Urządzenie można połączyć z dedykowanym sterowanym komputerowo stolikiem XY, co pozwala na szybkie, łatwe i dokładne zautomatyzowane mapowanie grubości i właściwości optycznych całych powierzchni podłoży. 

    Główne cechy urządzenia: 

    • Pomiary spektroskopowe w czasie rzeczywistym 
    • Obrazowanie powierzchni za pomocą zintegrowanej kolorowej kamery o wysokiej rozdzielczości
    • Pomiary niejednorodności grubości warstw, mapowanie całych powierzchni podłoży, wyznaczanie stałych optycznych 
    • System w szczególności dedykowany zastosowaniom B+R 

    PEŁNA SPECYFIKACJA DOSTĘPNA W ZAŁĄCZONEJ BROSZURZE W ZAKŁADCE PLIKI