STADIVARI

Čtyřkruhový difraktometr STADI VARI je nejpokročilejším systémem firmy STOE pro studium monokrystalů. Zařízení je určeno pro výzkum anorganických i organických materiálů včetně bílkovin.

Otevřená Eulerova kolébka nabízí dostatek místa pro připojení komor o velké hmotnosti bez rozostření.

Difraktometr STADI VARI lze použít s vysokoteplotními, nízkoteplotními a vysokotlakými komůrkami.

Pro práci s dvojicí vlnových délek jsou možné všechny kombinace zdrojů Cu, Mo a Ag: standardní zdroje, zdroje mikrofokus, tekutá anoda MetalJet.

Díky své výjimečné stabilitě je goniometr STADI VARI instalován v předních synchrotronových laboratořích po celém světě.

Nový 32bitový software X-Area byl navržen pro práci se všemi přístroji STOE s plošnými detektory, systémy IPDS II, IPDS 2T a novým systémem STADIVARI s detektorem DECTRIS PILATUS. Zahrnuje osvědčené softwarové nástroje:

• Recipe
• X-Shape
• X-Red³²

ZÁKLADNÍ RYSY

• Vysoká kvalita dat; 32 bitů na pixel, neomezený počet reflexí pro vypřesnění parametrů mřížky
• Oddělení příspěvků α1 / α2 pomocí eliptického profilu reflexe
• Komplexní grafické uživatelského rozhraní (GUI) pro měření a zpracování dat umožňuje operativní kontrolu analýzy a zpracování dat na vysoké úrovni
• Zvýšení flexibility díky dynamické správě paměti
• Plná integrace STOE FaceitVideo

SBĚR DAT
Ovládání přístroje / Měření / Optimalizace

• Intuitivní rozhraní difraktometru nabízející přímý přístup ke všem funkcím
• Snadné centrování vzorku pomocí integrované funkce FaceitVideo
• Automatizovaná měření jsou spouštěna v ovládacím programu pomocí několika kroků
• Software plošného detektoru se 32 bity na pixel umožňuje dosažení vysoké přesnosti získaných dat
• Uživatelsky přátelské grafické rozhraní (GUI) optimalizuje měřící strategii (např. vzhledem ke krystalové symetrii studovaných fází a jejich orientaci), což umožňuje rychlejší a cílenější sběr dat

JUSTACE KRYSTALU

Videokamera usnadňující centraci krystalu nebo, v případě potřeby, i indexaci krystalových ploch

OPTIMALIZÁTOR MĚŘÍCÍ STRATEGIE

Výkonnný nástroj pro časovou optimalizaci sběru dat.

PREZENTACE
Grafika

• Software X-Area je srozumitelným grafickým nástrojem pro zobrazení a kontrolu načtených snímků
• Možnosti interaktivního zobrazení poskytují snadno použitelný způsob kontroly kvality analyzovaného krystalu, např. snadné prověření neočekávaného oddělení reflexí
• Kontrola přítomnosti anomálních efektů difrakčních záznamů, jako je difuzní rozptyl

INSPEKCE REFLEXÍ

Sofistikovaný grafický software pro bližší náhled snímků

ZPRACOVÁNÍ OBRAZU
Indexování / Základní buňka / Vypřesnění

• Multi-processing mod pro rychlé vyhledání reflexí
• Zbývající reflexe mohou být indexovány buď automaticky nebo na základě robustního grafického programu
• Parametry základní buňky jsou vypřesňovány dle krystalové soustavy
• Vypřesnění neomezeného počtu difrakčních linií

ROBUSTNÍ INDEXACE

Grafika pro indexování umožňuje uživateli plnou kontrolu kvality krystalu

GRAFICKÝ NÁHLED

Snadná detekce efektů, jako jsou satelitní reflexe, v průběhu indexování

Integrace

• Použití eliptických profilů reflexí pro oddělení Kα1 / 2 integrační proces
• Automatizovaná optimalizace integrovaných parametrů
• Automatická detekce překryvů reflexí
• Grafická kontrola procesu integrace
• Stínění oblastí detektoru definovaných uživatelem
• Automatický výpočet stínících masek pro vysokotlaké cely
• Výchozí nastavení datového souboru intenzit kompatibilní s programem SHELX
• Volitelný soubor kompatibilní s XD

INTEGRACE REFLEXÍ

Datové soubory s přesnými intenzitami díky spolehlivému procesu integrace reflexí

ANALÝZA DAT

• Identifikace centrosymetrie prostorové grupy pomocí grafu e-statistics
• Nástroj pro pohodlné stanovení Laueho grupy
• Automatické určování prostorové grupy
• Grafický nástroj pro zobrazení difrakčních linií v reciprokém prostoru
• Prohlížení komplikovaných difaktogramů pomocí vrstev v souřadnicovém systému reciprokého prostoru, vytvořeném z jednotlivých snímků
• Přepočet pixelů snímků do podoby teoretických „práškových difraktogramů“

LAUEHO ANALYZÁTOR

Rychlá a snadná identifikace Laueho grupy

KOREKCE

• Korekce Lorenzovy polarizace (LP) a absorpce vzduchem
• Korekce absorpce v závislosti na vlastnostech krystalu (numerická korekce nebo změna měřítka intenzity na základě sférických harmonických parametrů)
• Automatizovaná verze STOE’s X-Shape
• Škálování snímků pomocí polynomů
• Korekce na rozklad krystalu (korekce pro rozkład krystalu)
• Vyhledání odlehlých hodnot

X-SHAPE

Automatizovaná optimalizace tvaru krystalu pro numerickou korekci absorpce

ROZŠÍŘENÍ
Multidoménové systémy

• Poloautomatické indexování reflexí jednotlivých domén
• Simultánní integrace intenzit reflexí až osmi domén, plná kontrola grafiky
• Škálování intenzit pomocí sérií souvisejících reflexí

DIAGNOSTICKÉ DIAGRAMY

Vizuální kontrola pro zvýšení kvality dat po škálování
Nesouměřitelně modulované struktury (Incommensurately Modulated Structures)

• Výpočet parametrů hlavní mřížky
• Určení a vypřesnění až tří q vektorů
• Integrace hlavních reflexí i satelitů
• Zpracování difrakčních záznamů nesouměřitelně modulovaných vícedoménových krystalů (incommensurately modulated multi-domain crystals)

MULTIDOMÉNOVÁ INTEGRACE

Příklad integrace dvou domén (tyrkysově: skupiny překrývajících se reflexí)