IPDS 2T

Monokrystalový rentgenový difraktometr

Spolehlivý rentgenový monokrystalový difraktometr s plošným snímačem (Imaging Plate) s rozšířeným rozsahem měření do 137 °2theta.

    Tato stránka je chráněna službou reCAPTCHA Politika ochrany soukromí | Platí podmínky Google.

    • Plošný snímač, aktivní povrch o průměru 340 mm
    • Rozsah 137° w 2θ
    • Široký dynamický rozsah > 1: 105 (16 bitů)
    • Velmi nízká hladina šumu, (potlačení tmavého proudu detektoru)
    • Vynikající výsledky pro materiály se slabým rozptylem
    • Velký rozsah intenzit v rámci jednoho měřeni
    • Dlouhá životnost, nízké náklady na provoz a údržbu
    • Možnost použití standardních zdrojů záření Cu, Mo, Ag a zdrojů Cu, Mo, Ag s mikrofokusem a rentgenovou optikou
    • Možnost připojení dvou systémů k jednomu zdroji záření
    • Možnost instalace dvou zdrojů záření
    • Možnost použití nízkoteplotních, vysokoteplotních a vysokotlakých komůrek
    • Spolehlivost: desetiletá záruka na komponenty vyrobené firmou STOE

    Nový 32bitový software X-Area byl navržen pro práci se všemi přístroji STOE s plošnými detektory, systémy IPDS II, IPDS 2T a novým systémem STADIVARI s detektorem DECTRIS PILATUS. Zahrnuje osvědčené softwarové nástroje:

    • Recipe
    • X-Shape
    • X-Red32
    ZÁKLADNÍ RYSY
    • Vysoká kvalita dat; 32 bitů na pixel, neomezený počet reflexí pro vypřesnění parametrů mřížky
    • Oddělení příspěvků α1 / α2 pomocí eliptického profilu reflexe
    • Komplexní grafické uživatelského rozhraní (GUI) pro měření a zpracování dat umožňuje operativní kontrolu analýzy a zpracování dat na vysoké úrovni
    • Zvýšení flexibility díky dynamické správě paměti
    • Plná integrace STOE FaceitVideo
    SBĚR DAT
    Ovládání přístroje / Měření / Optimalizace
    • Intuitivní rozhraní difraktometru nabízející přímý přístup ke všem funkcím
    • Snadné centrování vzorku pomocí integrované funkce FaceitVideo
    • Automatizovaná měření jsou spouštěna v ovládacím programu pomocí několika kroků
    • Software plošného detektoru se 32 bity na pixel umožňuje dosažení vysoké přesnosti získaných dat
    • Uživatelsky přátelské grafické rozhraní (GUI) optimalizuje měřící strategii (např. vzhledem ke krystalové symetrii studovaných fází a jejich orientaci), což umožňuje rychlejší a cílenější sběr dat
    JUSTACE KRYSTALU

    Videokamera usnadňující centraci krystalu nebo, v případě potřeby, i indexaci krystalových ploch

    OPTIMALIZÁTOR MĚŘÍCÍ STRATEGIE

    Výkonnný nástroj pro časovou optimalizaci sběru dat.

    PREZENTACE
    Grafika
    • Software X-Area je srozumitelným grafickým nástrojem pro zobrazení a kontrolu načtených snímků
    • Možnosti interaktivního zobrazení poskytují snadno použitelný způsob kontroly kvality analyzovaného krystalu, např. snadné prověření neočekávaného oddělení reflexí
    • Kontrola přítomnosti anomálních efektů difrakčních záznamů, jako je difuzní rozptyl
    INSPEKCE REFLEXÍ

    Sofistikovaný grafický software pro bližší náhled snímků

    ZPRACOVÁNÍ OBRAZU
    Indexování / Základní buňka / Vypřesnění
    • Multi-processing mod pro rychlé vyhledání reflexí
    • Zbývající reflexe mohou být indexovány buď automaticky nebo na základě robustního grafického programu
    • Parametry základní buňky jsou vypřesňovány dle krystalové soustavy
    • Vypřesnění neomezeného počtu difrakčních linií
    ROBUSTNÍ INDEXACE

    Grafika pro indexování umožňuje uživateli plnou kontrolu kvality krystalu

    GRAFICKÝ NÁHLED

    Snadná detekce efektů, jako jsou satelitní reflexe, v průběhu indexování

    Integrace

    • Použití eliptických profilů reflexí pro oddělení Kα1 / 2 integrační proces
    • Automatizovaná optimalizace integrovaných parametrů
    • Automatická detekce překryvů reflexí
    • Grafická kontrola procesu integrace
    • Stínění oblastí detektoru definovaných uživatelem
    • Automatický výpočet stínících masek pro vysokotlaké cely
    • Výchozí nastavení datového souboru intenzit kompatibilní s programem SHELX
    • Volitelný soubor kompatibilní s XD
    INTEGRACE REFLEXÍ

    Datové soubory s přesnými intenzitami díky spolehlivému procesu integrace reflexí

    ANALÝZA DAT
    • Identifikace centrosymetrie prostorové grupy pomocí grafu e-statistics
    • Nástroj pro pohodlné stanovení Laueho grupy
    • Automatické určování prostorové grupy
    • Grafický nástroj pro zobrazení difrakčních linií v reciprokém prostoru
    • Prohlížení komplikovaných difaktogramů pomocí vrstev v souřadnicovém systému reciprokého prostoru, vytvořeném z jednotlivých snímků
    • Přepočet pixelů snímků do podoby teoretických „práškových difraktogramů“
    LAUEHO ANALYZÁTOR

    Rychlá a snadná identifikace Laueho grupy

    KOREKCE
    • Korekce Lorenzovy polarizace (LP) a absorpce vzduchem
    • Korekce absorpce v závislosti na vlastnostech krystalu (numerická korekce nebo změna měřítka intenzity na základě sférických harmonických parametrů)
    • Automatizovaná verze STOE’s X-Shape
    • Škálování snímků pomocí polynomů
    • Korekce na rozklad krystalu (korekce pro rozkład krystalu)
    • Vyhledání odlehlých hodnot
    X-SHAPE

    Automatizovaná optimalizace tvaru krystalu pro numerickou korekci absorpce

    ROZŠÍŘENÍ
    Multidoménové systémy
    • Poloautomatické indexování reflexí jednotlivých domén
    • Simultánní integrace intenzit reflexí až osmi domén, plná kontrola grafiky
    • Škálování intenzit pomocí sérií souvisejících reflexí
    DIAGNOSTICKÉ DIAGRAMY

    Vizuální kontrola pro zvýšení kvality dat po škálování
    Nesouměřitelně modulované struktury (Incommensurately Modulated Structures)

    • Výpočet parametrů hlavní mřížky
    • Určení a vypřesnění až tří q vektorů
    • Integrace hlavních reflexí i satelitů
    • Zpracování difrakčních záznamů nesouměřitelně modulovaných vícedoménových krystalů (incommensurately modulated multi-domain crystals)
    MULTIDOMÉNOVÁ INTEGRACE

    Příklad integrace dvou domén (tyrkysově: skupiny překrývajících se reflexí)