STADI P Combi

STADI P COMBI

• Czyste promieniowanie Kα1 ze źródeł Fe, Cu, Mo i Ag.
• Pomiar próbek umieszczonych w płytce 96-dołkowej.
• Możliwość pomiaru próbek ciekłych.
• W pełni zautomatyzowane oprogramowanie do prowadzenia pomiarów i zarządzania danymi.
• Bezszumowy detektor Mythen 1K
• System zgodny z GMP
• Niezawodność – 10 lat gwarancji na elementy wytwarzane przez STOE

WYSOKOPRZEPUSTOWA ANALIZA KOMBINATORYCZNA

• Wysokoprzepustowy moduł oprogramowania umożliwiający identyfikację faz, porównanie podobieństw oraz analizę intensywności pomiędzy 96-próbkami na płytce
• Zoptymalizowana graficzna prezentacja wyników za pomocą prostego określenia parametrów dla każdego z pomiarów.

Geometria  transmisyjna Debye – Scherrer w połączeniu z czystym promieniowaniem Kα1

• Detekcja sygnałów w całym zakresie 2-theta.
• Szybkość pomiaru – akwizycja sygnału na całej aperturze detektora jednocześnie (18°)
• Możliwość pomiarów od najmniejszych kątów 2Theta – <0.2ᵒ
• Wysoka jakość danych – najlepsza osiągnięta rozdzielczość – 0.03ᵒ 2theta
• Możliwość rzeczywistego pomiaru bardzo małych ilości materiałów.
• Brak wpływu orientacji materiału w próbce na wynik pomiaru.
• Łatwa praca z próbkami wrażliwymi na wilgoć lub powietrze.
• Eliminacja zjawiska przesunięcia w 2theta ze względu na różnice w wysokości próbki.
• Eliminacja tworzenia form polimorficznych przez ugniatanie próbki

DETEKTOR MYTHEN 1K Dectris

• półprzewodnikowy detektor paskowy firmy Dectris,
• zliczający pojedyncze fotony promieniowania RTG, bez konwersji na światło widzialne.
• 24 bitowy zakres dynamiczny przy jednoczesnym brakiem szumów oraz ciemnych prądów.
• Bezobsługowy, bardzo szybki – w połączeniu z monochromatorem STOE umożliwia zebranie danych w zakresie 2theta 0° – 120° w 60 sekund.
• Posiada 1280 pasków o szerokości 50µm każdy.
• Grubość paska krzemowego jest dostosowana do rodzaju zastosowanego źródła promieniowania.

Akcesoria dyfraktometrów proszkowych STOE:
– Uchwyty dla próbek transmisyjnych
– Uchwyty kapilar
– Uchwyty odbiciowe
– Uchwyty do pomiarów cienkich warstw
– Automatyczne podajniki próbek i kapilar
– Przystawki wysoko- i niskotemperaturowe

Przystawki do pomiarów in-situ

Wysoko-temperaturowa komora in-situ do analiz dyfrakcji XRD in situ z możliwością prowadzenia pomiarów w atmosferze przepływającego gazu w geometrii transmisyjnej Debye-Scherrer z czystym promieniowaniem Kα1

Krótka charakterystyka:
– Zakres temperatur – RT – 1800K
– Przepływ gazu – 0.01 – 0.1 l/min
– Objętość próbki – 10-20 mm³
– Do stosowania z promieniowaniem Mo Kα1
– Zakres 2Theta – 90°
– Zgodna z dyfraktometrami XRD STOE

Przystawka do pomiarów elektrochemicznych in-situ

OPROGRAMOWANIE DO DYFRAKCJI PROSZKOWEJ WinX^POW

• Bardzo elastyczna, wydajna i prosta w obsłudze 32-bitowa aplikacja dla systemów Windows
• Możliwość obsługi dwóch dyfraktometrów jednocześnie z jednego komputera
• Wyniki mogą być łatwo wykorzystane w innych aplikacjach Windows
• Liberalna polityka licencyjna, bezpłatne aktualizacje przez 3 lata
• Kompletne oprogramowanie do rejestracji i ewaluacji danych

CECHY:

• Konfiguracja urządzenia
• Obsługa dyfraktometru / rejestracja danych / kalibracja PSD
• Grafika – wyszukiwanie pików, wygładzanie, odejmowanie tła
• Grafika 3D
• Obsługa danych Raw z opcją importu/eksportu w różnych formatach
• Dopasowanie profilu
• Indeksowanie i udokładnianie stałych sieci
• Generowanie teoretycznego wzoru
• Analiza wielkości / naprężeń
• Analiza zachowanego austenitu
• Opcjonalnie CFR21 wersja zgodna z cz.11

REJESTRACJA DANYCH / KONTROLA TEMPERATURY

• Elastyczny i intuicyjny interfejs użytkownika. Prosty dostęp i obsługa dyfraktometru oraz podłączonych urządzeń
• Obsługa różnych konfiguracji – transmisja, Debye-Scherrer i odbicie
• Dla skanów 2Θ/Ω, Θ/2Θ, Θ i Ω
• Automatyczne pomiary w funckcji zmiany temperatury – obsługa kilkunastu nisko- i wysokotemperaturowych Przystawek
• Pomiary z podajnikami próbek mogą być wykonane bezpośrednio
  lub za pomocą programów zewnętrznych przy pomocy plików do obsługi seryjnej
• W pełni automatyczna kalibracja: korekcja punktu zero w ciągu kilku minut

OBSŁUGA DANYCH RAW

• Redukcja danych z narzędziami do edycji tła, absorpcji, martwego czasu, korekcji kątowej oraz w przypadku konieczności odcięcia KA2
• Kompletne pliki lub wybrane zakresy mogą być łączone, dodawane lub odejmowane

PREZENTACJA:

Grafika 2D:

• Wydajny program graficzny do wizualizacji i prezentacji danych
• Wizualizacje różnego zakresu danych np. zmierzone dne, dane piku lub dane importowane z baz ICDD
• Podstawowe przetwarzanie danych np. wyszukiwanie pików lub edycja tła
• Wszystkie zestawy danych segregowane w przejrzysty sposób, z możliwością oznaczania kolorami osi itp.

Grafika 3D

• Łatwo dostępne narzędzie do wizualizacji 3D
• Elastyczny wybór perspektyw, skalowania i opcji oznaczania widoku ‘góra-dół’ na secie danych (wykresie Guinier`a)

EWALUACJA

• Indeksowanie wzorów i określanie grup przestrzennych jest często krokiem ograniczającym w określaniu struktury docelowej z danych proszkowych. Dlatego WinXPow wraz z SystEval oferuje wydajne narzędzie do wyszukiwania pików, indeksowanie przy pomocy 3 dobrze znanych algorytmów, udokładnianie komórki i określenie symboli wygaszania.
• Wszystko wykonywane z pełnym udokładnianiem obrazu
• Dopasowywanie i indeksowanie profilu również dostępne jako niezależny moduł Size-Strain / Crystallinity
• Ewaluacja pomiarów rozmiarów / naprężeń
• Określanie stanu krystaliczności teoretycznego obrazu
• Obliczanie teoretycznego obrazu z podanych metrycznych i atomowych pozycji
• Prosty import z plików CIF