STADI MP

Dyfraktometr proszkowy

Jeden system, jeden goniometr, trzy geometrie pomiarowe

    Ta strona jest chroniona przez reCAPTCHA oraz Google Polityka Prywatności | Warunki użytkowania.

    Główne zalety systemu STADI MP:

    • Dyfraktometr proszkowy o bardzo szerokich możliwościach pomiarowych
    • Możliwość prowadzenia pomiarów w trzech geometriach: transmisja/ Debye-Scherrer, mikro-dyfrakcja, odbicie/Bragg-Brentano.
    • Zmiana geometrii pomiarowej w kilka minut poprzez przesunięcie po szynie ramienia ze źródłem promieniowania.
    • Brak konieczności re-kalibracji po zmianie geometrii.
    • Pomiary w każdej geometrii przy pomocy czystego promieniowania Kα1 ze źródeł Fe, Cu, Mo i Ag.
    • Bezszumowy detektor Mythen 1K
    • Automatyczny podajnik uchwytów próbek i kapilar.
    • Pomiary w niskich i wysokich temperaturach.
    • Niezawodność – 10 lat gwarancji na elementy wytwarzane przez STOE.

    Geometria  transmisyjna Debye – Scherrer w połączeniu z czystym promieniowaniem Kα1

    • Detekcja sygnałów w całym zakresie 2-theta.
    • Szybkość pomiaru – akwizycja sygnału na całej aperturze detektora jednocześnie (18°)
    • Możliwość pomiarów od najmniejszych kątów 2Theta – <0.2ᵒ
    • Wysoka jakość danych – najlepsza osiągnięta rozdzielczość – 0.03ᵒ 2theta
    • Możliwość rzeczywistego pomiaru bardzo małych ilości materiałów.
    • Brak wpływu orientacji materiału w próbce na wynik pomiaru.
    • Łatwa praca z próbkami wrażliwymi na wilgoć lub powietrze.
    • Eliminacja zjawiska przesunięcia w 2theta ze względu na różnice w wysokości próbki.
    • Eliminacja tworzenia form polimorficznych przez ugniatanie próbki

    DETEKTOR MYTHEN 1K Dectris

    • półprzewodnikowy detektor paskowy firmy Dectris,
    • zliczający pojedyncze fotony promieniowania RTG, bez konwersji na światło widzialne.
    • 24 bitowy zakres dynamiczny przy jednoczesnym brakiem szumów oraz ciemnych prądów.
    • Bezobsługowy, bardzo szybki – w połączeniu z monochromatorem STOE umożliwia zebranie danych w zakresie 2theta 0° – 120° w 60 sekund.
    • Posiada 1280 pasków o szerokości 50µm każdy.
    • Grubość paska krzemowego jest dostosowana do rodzaju zastosowanego źródła promieniowania.

    Akcesoria dyfraktometrów proszkowych STOE:
    – Uchwyty dla próbek transmisyjnych
    – Uchwyty kapilar
    – Uchwyty odbiciowe
    – Uchwyty do pomiarów cienkich warstw
    – Automatyczne podajniki próbek i kapilar
    – Przystawki wysoko- i niskotemperaturowe

    Przystawki do pomiarów in-situ

    Wysoko-temperaturowa komora in-situ do analiz dyfrakcji XRD in situ z możliwością prowadzenia pomiarów w atmosferze przepływającego gazu w geometrii transmisyjnej Debye-Scherrer z czystym promieniowaniem Kα1

    Krótka charakterystyka:
    – Zakres temperatur – RT – 1800K
    – Przepływ gazu – 0.01 – 0.1 l/min
    – Objętość próbki – 10-20 mm3
    – Do stosowania z promieniowaniem Mo Kα1
    – Zakres 2Theta – 90°
    – Zgodna z dyfraktometrami XRD STOE

    Przystawka do pomiarów elektrochemicznych in-situ

    OPROGRAMOWANIE DO DYFRAKCJI PROSZKOWEJ WinXPOW

    • Bardzo elastyczna, wydajna i prosta w obsłudze 32-bitowa aplikacja dla systemów Windows
    • Możliwość obsługi dwóch dyfraktometrów jednocześnie z jednego komputera
    • Wyniki mogą być łatwo wykorzystane w innych aplikacjach Windows
    • Liberalna polityka licencyjna, bezpłatne aktualizacje przez 3 lata
    • Kompletne oprogramowanie do rejestracji i ewaluacji danych

    CECHY:

    • Konfiguracja urządzenia
    • Obsługa dyfraktometru / rejestracja danych / kalibracja PSD
    • Grafika – wyszukiwanie pików, wygładzanie, odejmowanie tła
    • Grafika 3D
    • Obsługa danych Raw z opcją importu/eksportu w różnych formatach
    • Dopasowanie profilu
    • Indeksowanie i udokładnianie stałych sieci
    • Generowanie teoretycznego wzoru
    • Analiza wielkości / naprężeń
    • Analiza zachowanego austenitu
    • Opcjonalnie CFR21 wersja zgodna z cz.11

    REJESTRACJA DANYCH / KONTROLA TEMPERATURY

    • Elastyczny i intuicyjny interfejs użytkownika. Prosty dostęp i obsługa dyfraktometru oraz podłączonych urządzeń
    • Obsługa różnych konfiguracji – transmisja, Debye-Scherrer i odbicie
    • Dla skanów 2Θ/Ω, Θ/2Θ, Θ i Ω
    • Automatyczne pomiary w funckcji zmiany temperatury – obsługa kilkunastu nisko- i wysokotemperaturowych Przystawek
    • Pomiary z podajnikami próbek mogą być wykonane bezpośrednio
      lub za pomocą programów zewnętrznych przy pomocy plików do obsługi seryjnej
    • W pełni automatyczna kalibracja: korekcja punktu zero w ciągu kilku minut

    OBSŁUGA DANYCH RAW

    • Redukcja danych z narzędziami do edycji tła, absorpcji, martwego czasu, korekcji kątowej oraz w przypadku konieczności odcięcia KA2
    • Kompletne pliki lub wybrane zakresy mogą być łączone, dodawane lub odejmowane

    PREZENTACJA:

    Grafika 2D:

    • Wydajny program graficzny do wizualizacji i prezentacji danych
    • Wizualizacje różnego zakresu danych np. zmierzone dne, dane piku lub dane importowane z baz ICDD
    • Podstawowe przetwarzanie danych np. wyszukiwanie pików lub edycja tła
    • Wszystkie zestawy danych segregowane w przejrzysty sposób, z możliwością oznaczania kolorami osi itp.

    Grafika 3D

    • Łatwo dostępne narzędzie do wizualizacji 3D
    • Elastyczny wybór perspektyw, skalowania i opcji oznaczania widoku ‘góra-dół’ na secie danych (wykresie Guinier`a)

    EWALUACJA

    • Indeksowanie wzorów i określanie grup przestrzennych jest często krokiem ograniczającym w określaniu struktury docelowej z danych proszkowych. Dlatego WinXPow wraz z SystEval oferuje wydajne narzędzie do wyszukiwania pików, indeksowanie przy pomocy 3 dobrze znanych algorytmów, udokładnianie komórki i określenie symboli wygaszania.
    • Wszystko wykonywane z pełnym udokładnianiem obrazu
    • Dopasowywanie i indeksowanie profilu również dostępne jako niezależny moduł Size-Strain / Crystallinity
    • Ewaluacja pomiarów rozmiarów / naprężeń
    • Określanie stanu krystaliczności teoretycznego obrazu
    • Obliczanie teoretycznego obrazu z podanych metrycznych i atomowych pozycji
    • Prosty import z plików CIF